故障測(cè)試儀之-HIT-5000 LSI 抗擾度測(cè)試儀分析

使用 TLP（傳輸線脈沖）的設(shè)備的抗擾度測(cè)試儀。
使用ESD槍的符合IEC64000-4-2的設(shè)備的抗擾度測(cè)試儀很常見，但是當(dāng)它們到達(dá)LSI時(shí)，它們會(huì)產(chǎn)生振動(dòng)波形，因此當(dāng)它們向正方向擺動(dòng)時(shí)會(huì)因振動(dòng)而發(fā)生故障。向負(fù)方向擺動(dòng)時(shí)無法區(qū)分故障和故障的問題。
在該測(cè)試儀中，通過將矩形波直接施加到具有低阻抗的 LSI 的引腳上，可以區(qū)分正故障和負(fù)故障。
通過使用可選的同步單元，可以很好地再現(xiàn)故障事件。
例如，在 CPU 的情況下，通過在 ROM/RAM/IO 訪問的定時(shí)施加脈沖噪聲，可以在每個(gè)定時(shí)進(jìn)行抗擾度測(cè)試。
此外，方波易于建模作為模擬信號(hào)源，并有望作為分析工具。

如下圖所示，將連接器插入電源或GND線，連接應(yīng)用探頭，設(shè)置應(yīng)用電壓和應(yīng)用次數(shù)。圖中，過濾器在外部，過濾器前面的一側(cè)在設(shè)備內(nèi)部。由于本設(shè)備不具備檢測(cè) LSI 故障的功能，因此需要通過在被測(cè)設(shè)備上安裝監(jiān)視器 LED 來采取一些措施來檢測(cè)故障。
使用同步單元時(shí)，需要將來自LSI的同步信號(hào)輸入同步單元。