日本sasaki koki非接觸式測厚儀OZUMA22 半導體（各種材料）的晶片硅Si.GaAs砷化鎵等，玻璃，金屬，化合物等的高精度非接觸式厚度測量（非接觸式厚度測量）
日本CAPTAIN六角形超聲波測厚儀RWP20.50-UTP-WET 飛機零件的后處理厚度控制是重要的過程。 當前，使用手提型超聲波測厚儀，并且人手動測量并記錄該值。 由于測量大型工件（例如飛機機體）的厚度需要幾個小時，因此自動測量飛機上工件厚度的探測系統可以大大提高生產率。
日本nanogray β射線測厚儀SB-1100系列 通常，為了測量片材的寬度方向上的厚度分布，檢測系統由掃描儀攜帶并進行測量。通常使用激光位移計作為不接觸地測量厚度的手段，但是如果將激光位移計安裝在掃描儀上，則其傳送的精度遠遠低于激光位移計的精度，從而導致結果。高精度測量是困難的。
日本nanogray X射線測厚儀SX-1100系列 使用軟X射線（軟X射線）的厚度計（膜厚度計）。以非接觸方式（軟X射線）測量薄片和板狀物體的厚度和密度（基本重量）。通過直接與參考物質比較來計算厚度和密度（基本重量），而不是直接測量厚度。
